エピタキシャルCaF<sub>2</sub>/Si量子ドット構造の光電流測定 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	エピタキシャルCaF₂/Si量子ドット構造の光電流測定
英文:	Photocurrent measurement of epitaxial CaF₂/Si quantum-dot structures

著者

和文:	大木洋, 渡辺正裕.
英文:	H. Oogi, M. Watanabe.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

20a-TG-10 16-096

出版年月

2010年3月20日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	第57回応用物理学会関係連合講演会
英文:	Nat. Conv. Rec. of the 57th Spring Meeting of The Jpn. Soc. of Appl. Phys

開催地

和文:	湘南
英文:	shonan

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