CaF<sub>2</sub>/CdF<sub>2</sub>/Si ヘテロ接合量子井戸構造を用いた抵抗スイッチング素子の保持特性評価

論文・著書情報

タイトル

和文:	CaF₂/CdF₂/Si ヘテロ接合量子井戸構造を用いた抵抗スイッチング素子の保持特性評価
英文:	Retention characteristics of resistance switching devices using CaF₂/CdF₂/Si quantum-well structures grown on Si(111)

著者

和文:	瓜生和也, 渡辺正裕.
英文:	K. Uryu, M. Watanabe.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

31p-P16-14 14-045

出版年月

2011年8月31日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	第72回応用物理学会学術講演会
英文:	The 72nd Autumn Meeting of The Jpn. Soc. of Appl. Phys

開催地

和文:	山形県
英文:	Yamagata