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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Influence of Carbon Incorporation in W Gate Electrode for La-silicate Gate Dielectrics
著者
和文:
K. Tuokedaerhan
,
細田修平
,
中村嘉基
,
角嶋邦之
,
片岡好則
,
西山彰
,
杉井信之
,
若林整
,
筒井一生
,
名取研二
,
岩井洋
.
英文:
K. Tuokedaerhan
,
Shuhei Hosoda
,
Yoshinori Nakamura
,
Kuniyuki KAKUSHIMA
,
片岡好則
,
西山彰
,
Nobuyuki Sugii
,
Hitoshi Wakabayashi
,
KAZUO TSUTSUI
,
Kenji Natori
,
HIROSHI IWAI
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2014年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
2013 International Workshop on DIELECTRIC THIN FILMS FOR FUTURE ELECTRON DEVICES-SCINCE AND TECHNOLOGY
開催地
和文:
英文:
Tokyo
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.