Resistance switching memory characteristics of Si/CaF2/CdF2 quantum-well structures grown on metal (CoSi2) Layer

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Resistance switching memory characteristics of Si/CaF₂/CdF₂ quantum-well structures grown on metal (CoSi₂) Layer

著者

和文:	J. Denda, K. Uryu, 渡辺正裕.
英文:	J. Denda, K. Uryu, M. Watanabe.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

PS-9-6 310-311

出版年月

2012年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	The 2012 International Conference on Solid State Devices and Materials

開催地

和文:
英文:	Kyoto