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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Influence of Band Discontinuities at Source-Channel contact in Tunnel FET Performance 
著者
和文: 呉研, 長谷川明紀, 角嶋邦之, 大毛利健治, T. Watanabe, 若林整, 筒井一生, 西山彰, 杉井信之, 片岡好則, 名取研二, 山田啓作, 岩井洋.  
英文: Y. Wu, Hiroki Hasegawa, Kuniyuki KAKUSHIMA, 大毛利健治, T. Watanabe, Hitoshi Wakabayashi, KAZUO TSUTSUI, 西山彰, Nobuyuki Sugii, 片岡好則, Kenji Natori, Keisaku Yamada, HIROSHI IWAI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2014年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:2013 International Workshop on DIELECTRIC THIN FILMS FOR FUTURE ELECTRON DEVICES-SCINCE AND TECHNOLOGY- 
開催地
和文:Ibaraki 
英文: 

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