English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Seventy nm Pitch Patternings on CaF
2
by e-beam Exposure: An Inorganic Resist and a Contamination Resist
著者
和文:
渡辺正裕
, H. Hongo, T. Hattori,
宮本 恭幸
, K. Furuya, T. Matsunuma,
浅田 雅洋
.
英文:
MASAHIRO WATANABE
, H. Hongo, T. Hattori,
Y. Miyamoto
, K. Furuya, T. Matsunuma,
M. Asada
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Jpn. J. Appl. Phys.
巻, 号, ページ
Vol. 35 No. 12A pp. 6342-6343
出版年月
1996年12月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
DOI
https://doi.org/10.1143/JJAP.35.6342
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.