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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Interface reaction analysis of La2O3/SiC upon annealing by ATR-FTIR 
著者
和文: 雷 一鳴, 宗清修, 角嶋邦之, 川那子高暢, 片岡好則, 西山彰, 杉井信之, 若林整, 筒井一生, 名取研二, 岩井洋, M. Furuhashi, N. Miura, S. Yamakawa.  
英文: 雷 一鳴, Shu Munekiyo, Kuniyuki KAKUSHIMA, Takamasa Kawanago, Yoshinori Kataoka, Akira Nishiyama, Nobuyuki Sugii, Hitoshi Wakabayashi, KAZUO TSUTSUI, Kenji Natori, HIROSHI IWAI, M. Furuhashi, N. Miura, S. Yamakawa.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2014年 
出版者
和文: 
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会議名称
和文: 
英文:The Workshop on Future Trend of Nanoelectronics:WIMNACT 39, February 7, 2014, Suzukake Hall, Suzukakedai Campus, Tokyo Institute of Technology, Japan 
開催地
和文: 
英文: 

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