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論文・著書情報


タイトル
和文:多層膜構造を用いたEDX分析におけるCu中のX線発生領域の測定 
英文:Measurement of the X-ray production range in Copper by EDX analysis using the multilayer film structure 
著者
和文: 佐藤 美那, 松谷 晃宏, 曽根 正人.  
英文: Mina Sato, akihiro matsutani, Masato Sone.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
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巻, 号, ページ        
出版年月 2014年3月 
出版者
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会議名称
和文:第61回応用物理学会春季学術講演会 
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開催地
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