Reconsidering Dielectric Breakdown Mechanisms for Realizing High-Temperature Capacitors

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Reconsidering Dielectric Breakdown Mechanisms for Realizing High-Temperature Capacitors

著者

和文:	鶴見敬章, 山崎幹雄, 保科拓也, 武田博明.
英文:	Takaaki Tsurumi, Mikio Yamazaki, Takuya Hoshina, Hiroaki Takeda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2015年5月26日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2015 JOINT ISAF-ISIF-PFM CONFERENCE

開催地

和文:
英文:	Singapore