Characterization of Cross-Line up to 110 GHz Using Two-Port Measurements

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of Cross-Line up to 110 GHz Using Two-Port Measurements

著者

和文:	Tokgoz KorkutKaan, 眞木翔太郎, 岡田健一, 松澤昭.
英文:	Korkut Kaan Tokgoz, Shotaro Maki, Kenichi Okada, Akira Matsuzawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2015年8月27日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology (RFIT)

開催地

和文:	仙台
英文: