Measurement of the SiO2/SiC interface state density in a wid energy-level range using capacitance transient spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Measurement of the SiO2/SiC interface state density in a wid energy-level range using capacitance transient spectroscopy

著者

和文:	長谷川淳一, Munetaka Noguchi, Masayuki Furuhashi, Shuhei Nakata, 岩崎孝之, 小寺哲夫, 西村正, 波多野睦子.
英文:	Junichi Hasegawa, Munetaka Noguchi, Masayuki Furuhashi, Shuhei Nakata, Takayuki Iwasaki, Tetsuo Kodera, Tadashi Nishimura, Mutsuko Hatano.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2015年10月8日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	16th ICSCRM2015

開催地

和文:
英文:	Giardini Naxos