Measurement of Dielectric Property in Terahertz Region Using Far-Infrared Ellipsometer

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Measurement of Dielectric Property in Terahertz Region Using Far-Infrared Ellipsometer

著者

和文:	保科拓也, 金原一樹, 武田博明, 鶴見敬章.
英文:	Takuya Hoshina, Kazuki Kanehara, Hiroaki Takeda, Takaaki Tsurumi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2016年5月16日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	EMN Meeting on Terahertz 2016

開催地

和文:
英文:	San Sebastian