Imaging of Molecular Recognition Events by Amplitude-Modulation Atomic Force Microscopy with a Photo-Thermal Excitation Technique

論文・著書情報

タイトル

和文:	Imaging of Molecular Recognition Events by Amplitude-Modulation Atomic Force Microscopy with a Photo-Thermal Excitation Technique
英文:	Imaging of Molecular Recognition Events by Amplitude-Modulation Atomic Force Microscopy with a Photo-Thermal Excitation Technique

著者

和文:	T. Nyu, T. Ogawa, T. Hayashi.
英文:	T. Nyu, T. Ogawa, T. Hayashi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
英文:	23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy

巻, 号, ページ

出版年月

2015年12月10日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy

開催地

和文:
英文:	Hokkaido, Japan