Experimental Study on Deformation Potential (Dac) in MOSFETs: Demonstration of Increased Dac at MOS Interfaces and Its Impact on Electron Mobility

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	*Experimental Study on Deformation Potential (D_ac) in MOSFETs: Demonstration of Increased D_ac* at MOS Interfaces and Its Impact on Electron Mobility**

著者

和文:	許正昱, 宇佐美浩一, 野口智弘, 河野行雄, Teruyuki Ohashi, Takahisa Tanaka, 高橋綱己, 小田俊理, Ken Uchida.
英文:	Zhengyu Xu, kouichi usami, Tomohiro Noguchi, Yukio Kawano, Teruyuki Ohashi, Takahisa Tanaka, Tsunaki Takahashi, Shunri Oda, Ken Uchida.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Journal of the Electron

巻, 号, ページ

Vol. PP p. 1

出版年月

2016年6月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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