放射光X線粉末回折による強誘電BiFeO3の電子密度解析 | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	放射光X線粉末回折による強誘電BiFeO3の電子密度解析
英文:

著者

和文:	藤井孝太郎, 加藤浩輝, 尾本和樹, 八島正知, Jun Chen, Xianran Xing.
英文:	Kotaro Fujii, 加藤浩輝, 尾本和樹, Masatomo Yashima, Jun Chen, Xianran Xing.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2015年9月17日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	日本セラミックス協会2015年秋季シンポジウム
英文:

開催地

和文:
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