XRD測定による (100)/(001)配向正方晶Pb(Zr,Ti)O3膜の電界印加下の結晶構造変化の定量分析

論文・著書情報

タイトル

和文:	XRD測定による (100)/(001)配向正方晶Pb(Zr,Ti)O3膜の電界印加下の結晶構造変化の定量分析
英文:

著者

和文:	舟窪浩, 大島直也, 清水荘雄, 中島光雅, 江原祥隆, 及川貴弘, 内田寛.
英文:	HIROSHI FUNAKUBO, Naoya Oshima, Takao Shimizu, Mitsumasa Nakajima, yoshitaka Ehara, 及川貴弘, Hiroshi Uchida.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2015年9月13日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:	第76回応用物理学会秋季学術講演会
英文:

開催地

和文:	名古屋市
英文: