Phase Identification of Ca-Si Films prepared on (001) Al2O3 Substrates Using X-ray Diffraction Wide Area Reciprocal Space Mapping Method

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Phase Identification of Ca-Si Films prepared on (001) Al2O3 Substrates Using X-ray Diffraction Wide Area Reciprocal Space Mapping Method

著者

和文:	上原睦雄, 秋山賢輔, 松島正明, 清水荘雄, 内田寛, 木村好里, 舟窪浩.
英文:	M. Uehara, K. Akiyama, M. Matsushima, T. Shimizu, H. Uchida, Y. Kimura, H. Funakubo.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2015年7月16日

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
英文:	Tsukuba