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論文・著書情報


タイトル
和文:Nano-palpation AFM and its quantitative mechanical property mapping 
英文:Nano-palpation AFM and its quantitative mechanical property mapping 
著者
和文: 中嶋健, Ito, Makiko, Wang, Dong, Liu, Hao, Nguyen, Hung Kim, 梁暁斌, Kumagai, Akemi, Fujinami, So.  
英文: Ken Nakajima, Ito, Makiko, Wang, Dong, Liu, Hao, Nguyen, Hung Kim, Xiaobin Liang, Kumagai, Akemi, Fujinami, So.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文:Microscopy 
英文:Microscopy 
巻, 号, ページ Vol. 63    No. 3    pp. 193-207
出版年月 2014年4月25日 
出版者
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会議名称
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開催地
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公式リンク http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=WOS:000338130700003&KeyUID=WOS:000338130700003
 
DOI https://doi.org/10.1093/jmicro/dfu009

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