Analysis of Recovery Process of Low Dose Neutron Irradiation-Induced Defects in Silicon Nitride-Based Ceramics by Thermal Annealing

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Analysis of Recovery Process of Low Dose Neutron Irradiation-Induced Defects in Silicon Nitride-Based Ceramics by Thermal Annealing

著者

和文:	Areerak Rueanngoen, Koumei Kanazawa, Masamitsu Imai, Katsumi Yoshida, Toyohiko Yano.
英文:	Areerak Rueanngoen, Koumei Kanazawa, masamitsu imai, Katsumi Yoshida, TOYOHIKO YANO.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Nuclear Materials

巻, 号, ページ

Vol. 455 no. 1-3 pp. 464-469

出版年月

2014年12月

出版者

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会議名称

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開催地

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DOI