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論文・著書情報


タイトル
和文:酸化物薄膜の原子スケールでの解析とエンジニアリング 
英文:Atomic scale analysis and engineering of oxide thin films 
著者
和文: 大西剛.  
英文: .  
種別
種別:学位論文(博士) 
国名:Japan 
言語 English 
学位授与組織 Tokyo Institute of Technology 
報告番号 甲第4105号 
学位授与日 1999/03/26 
審査員  
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