Characterization of electronic structure around metal-insulator transition in V1-xWxO2 thin films by thermopower measurement

論文・著書情報

タイトル

和文:	Characterization of electronic structure around metal-insulator transition in V1-xWxO2 thin films by thermopower measurement
英文:	Characterization of electronic structure around metal-insulator transition in V1-xWxO2 thin films by thermopower measurement

著者

和文:	T. Katase, K. Endo, H. Ohta.
英文:	T. Katase, K. Endo, H. Ohta.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	J. Ceram. Soc. Jpn.
英文:	J. Ceram. Soc. Jpn.

巻, 号, ページ

vol. 123 p. 307-311

出版年月

2015年5月1日

出版者

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会議名称

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開催地

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