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タイトル
和文:
Investigation of resistive switching memory effect in a-TaOx films with atomically flat surface
英文:
Investigation of resistive switching memory effect in a-TaOx films with atomically flat surface
著者
和文:
A. Tsurumaki-Fukuchi, M. Arita,
T. Katase
, H. Ohta, Y. Takahashi.
英文:
A. Tsurumaki-Fukuchi, M. Arita,
T. Katase
, H. Ohta, Y. Takahashi.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2016年12月14日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
英文:
24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
開催地
和文:
Hawaii
英文:
Hawaii
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.