Atomic contrast on a point defect on CaF2(111) imaged by non-contact atomic force microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:	Atomic contrast on a point defect on CaF2(111) imaged by non-contact atomic force microscopy
英文:	Atomic contrast on a point defect on CaF2(111) imaged by non-contact atomic force microscopy

著者

和文:	S. Fujii, M. Fujihira.
英文:	S. Fujii, M. Fujihira.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	Nanotechnology
英文:	Nanotechnology

巻, 号, ページ

Vol. 18 No. 8 pp. 084011

出版年月

2007年1月

出版者

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会議名称

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開催地

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