Imaging defects on CaF2(111) surface with frequency modulation atomic force microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:	Imaging defects on CaF2(111) surface with frequency modulation atomic force microscopy
英文:	Imaging defects on CaF2(111) surface with frequency modulation atomic force microscopy

著者

和文:	S. Fujii, M. Fujihira.
英文:	S. Fujii, M. Fujihira.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	Jpn J Appl Phys 1
英文:	Jpn J Appl Phys 1

巻, 号, ページ

Vol. 45 No. 3b pp. 1986-1991

出版年月

2006年

出版者

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会議名称

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開催地

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