大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究 | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究
英文:

著者

和文:	倉田英明.
英文:	Hideaki Kurata.

種別

種別:	学位論文(博士)
国名:	日本

言語

Japanese

学位授与組織

東京工業大学

報告番号

甲第10666号

学位授与日

2017/09/20

審査員

杉野暢彦, 小林隆夫, 中村健太郎, 黒澤実, 伊藤浩之.

ファイル

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