Imaging defects on CaF2(111) surface with frequency modulation atomic force microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:	Imaging defects on CaF2(111) surface with frequency modulation atomic force microscopy
英文:	Imaging defects on CaF2(111) surface with frequency modulation atomic force microscopy

著者

和文:	Fujii, S., Fujihira, M., 藤井慎太郎.
英文:	Fujii, S., Fujihira, M., Shintaro Fujii.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	Japanese Journal of Applied Physics Part 1-Regular Papers Brief Communications & Review Papers
英文:	Japanese Journal of Applied Physics Part 1-Regular Papers Brief Communications & Review Papers

巻, 号, ページ

Vol. 45 No. 3B pp. 1986-1991

出版年月

2006年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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