Electric-field-induced lattice distortion in epitaxial BiFeO3 thin films as determined by in situ time-resolved x-ray diffraction

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Electric-field-induced lattice distortion in epitaxial BiFeO3 thin films as determined by in situ time-resolved x-ray diffraction

著者

和文:	中嶋誠二, 坂田修身, 舟窪浩, 清水荘雄, 一ﾉ瀬大地, Kota Takayama, Yasuhiko Imai, 藤澤浩訓, Masaru Shimizu.
英文:	Seiji Nakashima, Osami Sakata, Hiroshi Funakubo, Takao Shimizu, Daichi Ichinose, Kota Takayama, Yasuhiko Imai, Hironori Fujisawa, Masaru Shimizu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Phys. Lett.

巻, 号, ページ

vol. 111 pp. 082907-1-5

出版年月

2017年8月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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