微細半導体プロセスにおける宇宙空間シングルイベント耐性強化技術の検討（２）

論文・著書情報

タイトル

和文:	微細半導体プロセスにおける宇宙空間シングルイベント耐性強化技術の検討（２）
英文:	A Study on Single Event Mitigation Techniques for Nano-Scale Semiconductor Devices

著者

和文:	丸明史, 松田晃史, 吉本護.
英文:	Akifumi Maru, Akifumi Matsuda, MAMORU YOSHIMOTO.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
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巻, 号, ページ

出版年月

2018年9月5日

出版者

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会議名称

和文:	2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会
英文:	The 79th JSAP Autumn Meeting, 2018

開催地

和文:	名古屋
英文:	Nagoya

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