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論文・著書情報
タイトル
和文:
ECR-MBE法で作製したSi基板上GaN薄膜(t<200nm)の高品質化への試み ―作製プロセスの見直しとその検討―
英文:
Technical trial into higher crystalline quality of GaN films grown on Si substrates by ECR-MBE under reduced plasma damage -reconsideration of growth process and examination-
著者
和文:
淀徳男
,
井上直哉
,
塩尻大士
,
譚ゴオン
,
熊谷典子
,
松田晃史
,
吉本護
.
英文:
Tokuo Yodo
,
Naoya Inoue
,
daishi shiojiri
,
Geng Tan
,
Noriko Kumagai
,
Akifumi Matsuda
,
MAMORU YOSHIMOTO
.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2013年3月27日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
2013年 第60回 応用物理学会春季学術講演会
英文:
The 60th JSAP Spring Meeting, 2013
開催地
和文:
厚木
英文:
Atsugi
公式リンク
https://confit.atlas.jp/guide/event/jsap2013s/top?lang=ja
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.