Measurement of Carrier Lifetime in Microcrystalline Silicon for Optical Modulator

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Measurement of Carrier Lifetime in Microcrystalline Silicon for Optical Modulator

著者

和文:	近藤優一郎, 松本響介, Ryohei Takei, 庄司雄哉, 水本哲弥, Toshihiro Kamei.
英文:	Yuichiro Kondo, Kyosuke Matsumoto, Ryohei Takei, Yuya Shoji, Tetsuya Mizumoto, Toshihiro Kamei.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Technical Digest of 23rd Microoptics Conference

巻, 号, ページ

出版年月

2018年11月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	23rd Microoptics Conference

開催地

和文:
英文:	Taipei

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