原子層薄膜CaF<sub>2</sub>/Siヘテロ構造を用いた単一障壁トンネルダイオードの電流電圧特性評価

論文・著書情報

タイトル

和文:	原子層薄膜CaF₂/Siヘテロ構造を用いた単一障壁トンネルダイオードの電流電圧特性評価
英文:	Evaluation of current-voltage characteristics of single barrier tunneling diode using atomically-thin CaF₂/Si heterostructure

著者

和文:	福山聡史, 渡辺正裕.
英文:	Satoshi Fukuyama, MASAHIRO WATANABE.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
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巻, 号, ページ

p. 12-433

出版年月

2018年9月18日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	第79回応用物理学会学術講演会
英文:	The 79th Autumn Meeting of The Jpn. Soc. of Appl. Phys.

開催地

和文:	名古屋
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