Strategy to Utilize Transmission Electron Microscopy and X-ray Diffraction to Investigate Biaxial Strain Effect in Epitaxial BiFeO<sub>3</sub> Films

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Strategy to Utilize Transmission Electron Microscopy and X-ray Diffraction to Investigate Biaxial Strain Effect in Epitaxial BiFeO₃ Films

著者

和文:	In-Tae Bae, Tomohiro Ichinose, 安井伸太郎, András Kovács, Hong Jian Zhao, Jorge Íñiguez, Hiroshi Naganuma.
英文:	In-Tae Bae, Tomohiro Ichinose, Shintaro Yasui, András Kovács, Hong Jian Zhao, Jorge Íñiguez, Hiroshi Naganuma.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

vol. 57 pp. 0902A5

出版年月

2018年6月28日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: