光の回折現象を利用した湾曲定量解析手法の開発とフレキシブル基板の表面ひずみ実測

論文・著書情報

タイトル

和文:	光の回折現象を利用した湾曲定量解析手法の開発とフレキシブル基板の表面ひずみ実測
英文:	Quantitative method for bending analysis using light diffraction enables evaluation of surface strain in flexible substrates

著者

和文:	田口諒, 山田航平, 赤松範久, 藤川茂紀, 宍戸厚.
英文:	Ryo Taguchi, Kohei Yamada, Norihisa Akamatsu, Shigenori Fujikawa, Atsushi Shishido.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
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巻, 号, ページ

出版年月

2017年9月

出版者

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会議名称

和文:	第78回応用物理学会秋季学術講演会
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開催地

和文:	福岡
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