Preparation and characterization of S-33 samples for S-33(n,alpha)Si-30 cross-section measurements at the n_TOF facility at CERN

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Preparation and characterization of S-33 samples for S-33(n,alpha)Si-30 cross-section measurements at the n_TOF facility at CERN

著者

和文:	J. Praena, 片渕竜也, n_TOF Collaboration (133 authors).
英文:	J. Praena, Tatsuya Katabuchi (65th author), n_TOF Collaboration (133 authors).

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A

巻, 号, ページ

Vol. 890 pp. 142-147

出版年月

2018年5月11日

出版者

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会議名称

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開催地

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DOI