Comparison Between L-2L and Thru-Reflect-Line De-embedding Methods for W-Band CMOS Amplifier Design

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Comparison Between L-2L and Thru-Reflect-Line De-embedding Methods for W-Band CMOS Amplifier Design

著者

和文:	ABDOIbrahim Imad Ibrahim, Tokgoz KorkutKaan, 藤村拓弥, 岡田健一, 松澤昭.
英文:	Ibrahim Imad Abdo, Korkut Kaan Tokgoz, Takuya Fujimura, Kenichi Okada, Akira Matsuzawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2017年8月30日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology

開催地

和文:
英文:	Seoul