Modeling and analysis of I-V hysteresis behaviors caused by defects in tin perovskite thin films

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Modeling and analysis of I-V hysteresis behaviors caused by defects in tin perovskite thin films

著者

和文:	野間大史, 田口大, 間中孝彰, 岩本光正.
英文:	Taishi Noma, Dai Taguchi, Takaaki Manaka, Mitsumasa Iwamoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

vol. 124 no. 17 p. 175501

出版年月

2018年11月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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DOI