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論文・著書情報
タイトル
和文:
UV-O3表面酸化によるHfS2 MOSFETの性能改善
英文:
著者
和文:
張 文倫
,
金澤 徹
,
北村 稔
,
宮本 恭幸
.
英文:
Wenlun Zhang
,
Toru Kanazawa
,
Minoru Kitamura
,
YASUYUKI MIYAMOTO
.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
11p-W521-4
出版年月
2019年3月11日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
第66回応用物理学会春季学術講演会
英文:
開催地
和文:
東京 大岡山
英文:
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