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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Electron transport mechanism of tungsten trioxide powder thin film studied by investigating effect of annealing on resistivity 
著者
和文: Li, W., Sasaki, A., Oozu, H., Aoki, K., Kakushima, K., Kataoka, Y., Nishiyama, A., Sugii, N., 若林整, Tsutsui, K., Natori, K., Iwai, H..  
英文: Li, W., Sasaki, A., Oozu, H., Aoki, K., Kakushima, K., Kataoka, Y., Nishiyama, A., Sugii, N., Hitoshi Wakabayashi, Tsutsui, K., Natori, K., Iwai, H..  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Microelectronics Reliability 
巻, 号, ページ Vol. 55    No. 2    pp. 407-410
出版年月 2015年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
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開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1016/j.microrel.2014.10.012

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