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論文・著書情報


タイトル
和文:収束イオンビームとレーザーイオン化法を用いた環境汚染微粒子の履歴解析 
英文: 
著者
和文: 藤井正明, 坂本 哲夫.  
英文: Masaaki Fujii, 坂本 哲夫.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:光学 
英文: 
巻, 号, ページ Vol. 40    No. 5    pp. 232-234
出版年月 2011年5月10日 
出版者
和文:応用物理学会分科会日本光学会 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

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