Structural analysis of Cu(In,Ga)Se2 thin-films by depth-resolved XAFS

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Structural analysis of Cu(In,Ga)Se2 thin-films by depth-resolved XAFS

著者

和文:	別府孝介, 山添誠司, 山田明, 新田清文, 宇留賀朋哉, 和田隆博.
英文:	Kosuke Beppu, Seiji Yamazoe, AKIRA YAMADA, Kiyofumi Nitta, Tomoya Uruga, Takahiro Wada.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

58 105502

出版年月

2019年10月2日

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
英文:

DOI