Nanoscale Imaging of Molecular Recognition Sites by Amplitude-Modulation Atomic Force Microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:	Nanoscale Imaging of Molecular Recognition Sites by Amplitude-Modulation Atomic Force Microscopy
英文:	Nanoscale Imaging of Molecular Recognition Sites by Amplitude-Modulation Atomic Force Microscopy

著者

和文:	前川達洋, Mondarte Evan Angelo Quimada, 田原寛之, 丹生隆, 林智広.
英文:	Tatsuhiro Maekawa, Evan Angelo Quimada Mondarte, Hiroyuki Tahara, Takashi Nyu, Tomohiro Hayashi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	NCTU-Tokyo TECH Symposium
英文:	NCTU-Tokyo TECH Symposium

巻, 号, ページ

出版年月

2019年9月2日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	NCTU-Tokyo TECH Symposium

開催地

和文:	東京
英文:	Tokyo