Trade-off Relation between Mobility and Reliability in Oxide TFTs: Possible Origins and Experimental Demonstration

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Trade-off Relation between Mobility and Reliability in Oxide TFTs: Possible Origins and Experimental Demonstration

著者

和文:	金正煥, Shiah Yu-Shien, 方俊皓, Katsumi Abe, 細野秀雄.
英文:	Junghwan Kim, Yu-Shien Shiah, Joonho Bang, Katsumi Abe, Hideo Hosono.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2019年8月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	International Meeting on Information Display (IMID)

開催地

和文:
英文:	Gyeongju