English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Synchrotron X-ray CT imaging of processing-induced defects formed during sintering of alumina
著者
和文:
大熊 学
,
渡辺 修平
,
篠部 寛
,
西山 宣正
, 竹内 晃久, 上杉 健太朗,
田中 諭
,
若井 史博
.
英文:
Gaku OKUMA
,
Shuhei WATANABE
,
Kan SHINOBE
,
Norimasa NISHIYAMA
, Akihisa TAKEUCHI, Kentaro UESUGI,
Satoshi TANAKA
,
Fumihiro WAKAI
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2019年12月12日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
MATERIALS RESEARCH MEETING 2019 (MRM2019)
開催地
和文:
横浜
英文:
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.