Si(111)基板上Ag(111)超薄膜の有効量子井戸幅評価 | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	Si(111)基板上Ag(111)超薄膜の有効量子井戸幅評価
英文:

著者

和文:	菅原喜周, 板倉悠太, 山崎詩郎, 中辻寛, 平山博之.
英文:	Kishu Sugawara, Yuta Itakura, 山崎詩郎, Kan Nakatsuji, HIROYUKI HIRAYAMA.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2019年3月14日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	日本物理学会第74回年次大会

開催地

和文:	博多
英文:

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