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論文・著書情報


タイトル
和文:発光分光計測(OES)を用いたプラズマパラメータの診断 
英文:Diagnostics of Plasma Parameters of Optical Emission Spectroscopy (OES) Measurement 
著者
和文: 赤塚洋.  
英文: Hiroshi AKATSUKA.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:シリコンテクノロジー 
英文: 
巻, 号, ページ     No. 223    pp. 23-28
出版年月 2020年2月14日 
出版者
和文:応用物理学会シリコンテクノロジー分科会 
英文: 
会議名称
和文:応用物理学会シリコンテクノロジー分科会第223回 研究集会「プラズマプロセスにおけるナノ加工精度とダメージ制御」 
英文: 
開催地
和文:東京 
英文:Tokyo 
公式リンク https://annex.jsap.or.jp/silicon/activity/studyGroup/223
 
アブストラクト A method is introduced to examine plasma parameters, such as electron temperature (Te) and electron density (Ne), by optical emission spectroscopy (OES) measurement. Collisional radiative (CR) model is explained to interpret the OES data emitted from plasmas in a state of non-equilibrium, followed by a concrete example to deduce Te and Ne of argon plasmas with the OES data.

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.