Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文:Si(111)基板上に成長したInAs極薄膜のラマン分光法による歪み評価 
英文: 
著者
和文: 神林 郁哉, 星井 拓也, 角嶋 邦之, 若林 整, 筒井 一生.  
英文: Souiti Kanbayashi, Takuya Hoshii, Kuniyuki KAKUSHIMA, Hitoshi Wakabayashi, KAZUO TSUTSUI.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2018年9月18日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:第79回応用物理学会秋季学術講演会 
英文: 
開催地
和文:名古屋 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.