Path clustering for adaptive test

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Path clustering for adaptive test

著者

和文:	Uezono, T., Takahashi, T., Shintani, M., Hatayama, K., 益一哉, Ochi, H., Sato, T..
英文:	Uezono, T., Takahashi, T., Shintani, M., Hatayama, K., Kazuya Masu, Ochi, H., Sato, T..

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium

巻, 号, ページ

pp. 15-20

出版年月

2010年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
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DOI