A variability-aware adaptive test flow for test quality improvement

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A variability-aware adaptive test flow for test quality improvement

著者

和文:	Shintani, M., Uezono, T., Takahashi, T., Hatayama, K., Aikyo, T., 益一哉, Sato, T..
英文:	Shintani, M., Uezono, T., Takahashi, T., Hatayama, K., Aikyo, T., Kazuya Masu, Sato, T..

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

巻, 号, ページ

Vol. 33 No. 7 pp. 1056-1066

出版年月

2014年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
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DOI