Path Clustering for Test Pattern Reduction of Variation-Aware Adaptive Path Delay Testing

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Path Clustering for Test Pattern Reduction of Variation-Aware Adaptive Path Delay Testing

著者

和文:	Shintani, M., Uezono, T., Hatayama, K., 益一哉, Sato, T..
英文:	Shintani, M., Uezono, T., Hatayama, K., Kazuya Masu, Sato, T..

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)

巻, 号, ページ

Vol. 32 No. 5 pp. 601-609

出版年月

2016年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI