Nanostructure Analyses of Hafnia-Based Ferroelectric Thin Films by Aberration-Corrected Electron Microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Nanostructure Analyses of Hafnia-Based Ferroelectric Thin Films by Aberration-Corrected Electron Microscopy

著者

和文:	木口賢紀, 白石貴久, 三村和仙, 清水荘雄, 舟窪浩, Toyohiko J. Konno.
英文:	Takanori Kiguchi, Takahisa Shiraishi, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Toyohiko J. Konno.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2019年8月18日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	PRICM 10 (The 10th International Conference Pacific Rim on Advanced Materials and Processing)

開催地

和文:
英文:	Xi’an