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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Nanostructure Analyses of Hafnia-Based Ferroelectric Thin Films by Aberration-Corrected Electron Microscopy
著者
和文:
木口 賢紀
,
白石 貴久
,
三村 和仙
,
清水 荘雄
,
舟窪 浩
,
Toyohiko J. Konno
.
英文:
Takanori Kiguchi
,
Takahisa Shiraishi
,
Takanori Mimura
,
Takao Shimizu
,
Hiroshi Funakubo
,
Toyohiko J. Konno
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2019年8月18日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
PRICM 10 (The 10th International Conference Pacific Rim on Advanced Materials and Processing)
開催地
和文:
英文:
Xi’an
©2007
Tokyo Institute of Technology All rights reserved.